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TESA MU HITE 系列

TESA µ-HITE测量站各方面远超测高仪. 这种紧凑、坚固且高精度的仪器专门设计用于在靠近加工中心的车间现场的测量操作

面向生产线的µLTRA高精度紧凑型交钥匙解决方案

TESA µ-HITE测量站各方面远超测高仪. 这种紧凑、坚固且高精度的仪器专门设计用于在靠近加工中心的车间现场的测量操作, 以及更多的控制和高要求检查点,诸如实验室.

该仪器的测量范围为100mm, 这种“一体式”台站特别适合于在靠近生产线的位置来测量控制小零件.它甚至可以取代传统的1D 测头来使用,这种测头测量范围非常有限并且通常只能用于单个应用.

它与TESA MICRO-HITE 测高仪控制面板结合使用,使得该系统可显著提升生产力. 事实上, 其'学习' 模式加上其的执行速度可以对生产线的产出有积极影响.

TESA µ-HITE 因此代表一种简便的融合解决方案 ,即使用一种产品适配各种应用和用户环境的同时保证其灵活性不受影响.


• 生产现场理想的检测工具。

• 100 mm 量程

• 0.001 mm 和0.0001 mm 或0.0001 英寸和0.00001 英寸分辨率

• 最大允许误差为2 µm(轴向测量1 µm)。

• 集成的温度传感器系统,使得测量仪具有和钢一样的线性膨胀系数(11.5×10-6k-1)。

• 电动测量头使得触测速度更快。

• 自动采集数据使得测量力和测量数据更加稳定。

• 通过电机的驱动使得测量力恒定,可选择

• 无需人工计算。

• 通过TLC接口数据输出。